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徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？
點(diǎn)擊次數(shù)：1615 更新時(shí)間：2021-10-12
離子束切割儀是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器，適用于多層膜材料、軟硬復(fù)合材料等高難度材料，可有效避免涂抹效應(yīng)，暴露樣品細(xì)微結(jié)構(gòu)，可以靈活選擇多種樣品臺(tái)，不僅適用于高通量實(shí)驗(yàn)，也適合于特定制樣需求實(shí)驗(yàn)室。
徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復(fù)合、帶有孔縫結(jié)構(gòu)、熱敏感性、脆性及非均質(zhì)樣品，獲得樣品截面，從而進(jìn)行掃描電子顯微鏡（SEM），微區(qū)分析（EDS，WDS，Auger，EBSD）及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM，SPM)檢測(cè)。
產(chǎn)品具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？
1、可獲得良好的截面處理質(zhì)量，并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域，大大降低工作時(shí)間。并可實(shí)現(xiàn)在一次處理過(guò)程中zui多處理3個(gè)樣品。因此對(duì)有高通量需求的實(shí)驗(yàn)室，徠卡EM TIC 3X是理想解決方案。
2、樣品托多種多樣的樣品托，適合于各類(lèi)尺寸樣品。
3、可裝配系統(tǒng)根據(jù)您的樣品制備需要，可以有針對(duì)性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計(jì)樣品臺(tái)－標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)，多樣品臺(tái)或冷凍樣品臺(tái)。
4、樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見(jiàn)除了剖面切割，使用同一樣品托還可對(duì)樣品進(jìn)行清潔及增強(qiáng)襯度的功能。
5、冷凍樣品臺(tái)針對(duì)溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等，可以使用冷凍樣品臺(tái)對(duì)樣品進(jìn)行低溫下處理，獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達(dá)到-150°C。
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